Estudiantes de postgrado participan en III Escuela de Técnicas de Caracterización en Baja Dimensionalidad

III Escuela de Técnicas de Caracterización en Baja Dimensionalidad
El taller se realizó por tercera vez en las dependencias de la FCFM.
El taller se realizó por tercera vez en las dependencias de la FCFM.
En el laboratorio, los alumnos utilizaron herramientas microscópicas.
En el laboratorio, los alumnos utilizaron herramientas microscópicas.

Por tercer año consecutivo se realizó la III Escuela de Técnicas de Caracterización en Baja Dimensionalidad, cuyo objetivo es enseñar a estudiantes de postgrado y a la comunidad académica la aplicación de técnicas de espectroscopía y microscopía focalizados en la nanotecnología, y que están disponibles en nuestra Facultad.

Espectroscopía de fotoelectrones emitidos por rayos X (XPS), difracción de rayos X (XRD), microscopía electrónica de transmisión (TEM) y microscopía de fuerza atómica (AFM) y de efecto túnel (STM) son las técnicas utilizadas por académicos y estudiantes de la Universidad y que son socializadas a estudiantes de otras instituciones cada año en la Escuela.

A esta versión asistieron 18 estudiantes de distintos postgrados (ocho de ellos de fuera de Santiago), quienes están desarrollando proyectos de tesis en formación de nanoestructuras, materiales nanoestructurados y películas delgadas.

Es el caso de Nicolás Órdenes, bioquímico y estudiante de Magíster de Bioquímica Ambiental de la Universidad de Chile quien aseguró que la Escuela es un aporte para su investigación: “Ha sido una tremenda experiencia. Mi tesis trata sobre producción de nanopartículas en microorganismos con bacterias. Para caracterizar estas nuevas partículas que están produciendo estas bacterias, pretendo utilizar las técnicas aprendidas en la Escuela”.

“Nos estamos enfocando en la fabricación de celdas solares, además de aplicar una 'química verde'. El método de producción es mucho más amigable con el ambiente en comparación con los métodos químicos tradicionales”, agregó. Por su parte, Matías Seguel, estudiante de doctorado de la Universidad Católica de Valparaíso, y cuya tesis se basa en la detección de gases nocivos con material nanoestructurado, comentó que “estas técnicas de caracterización, como la difracción de Rayos X o la espectroscopía fotoelectrónica de Rayos X, me son de bastante utilidad para poder determinar sí están los compuestos que yo estoy mostrando en las publicaciones”.

Mario Mery, estudiante de doctorado en física de la Universidad Santa María, estudia la interacción de iones con la materia. Aunque las técnicas no son prioridad para llevar a cabo su investigación, sostuvo que ciertas técnicas como la microscopía de fuerza atómica (AFM) y de efecto túnel (STM), le parecen interesante para dilucidar si sus muestras están dañadas.

Finalmente, Mónica Ramírez, estudiante de doctorado en Química en la Facultad de Ciencias de la Universidad de Chile, cuya tesis se basa en estudiar la amplificación de señales de nanopartículas semiconductoras acopladas a nanopartículas metálicas, comentó que la Escuela amplió su espectro de técnicas que le permitirían aumentar la caracterización de los compuestos que estudia. "Me interesa la técnica de difracción de Rayos X, pero aún falta investigar la distribución cristalina de las nanopartículas semiconductoras. Esta técnica me permitiría ver la distribución atómica, de qué forma crecen estas partículas e indirectamente resolver el tema de mecanismo de reacción, y de cómo se distribuye electrónicamente sobre el cristal”.

La iniciativa fue organizada y desarrollada por los académicos Rodrigo Espinoza y Edgar Mosquera del Departamento de Ciencia de los Materiales, los profesores Víctor Fuenzalida y Marcos Flores de Física y, como invitados Claudio Aguilar y Carolina Parra de la Universidad Técnica Federico Santa María. Además, participaron varios investigadores postdoctorales y alumnos del Doctorado en Ciencia de los Materiales como profesores de taller y laboratorio.